1、 將比長(zhǎng)儀放在工作臺(tái)上,將標(biāo)準(zhǔn)桿放入比長(zhǎng)儀上下測(cè)頭球面孔內(nèi),松開上測(cè)頭鎖緊螺母、調(diào)整上測(cè)頭與百分表使刻度盤上“0”位于百分表指針對(duì)齊后,將上測(cè)頭鎖緊螺母擰緊。
2、 將被測(cè)試體擦凈,一端釘頭放入比長(zhǎng)儀下測(cè)頭球面孔內(nèi),另一端釘頭輕輕放入比長(zhǎng)儀上測(cè)頭的球面孔內(nèi)。
3、 左右旋轉(zhuǎn)被測(cè)體,使試體與比長(zhǎng)儀下測(cè)頭良好接觸。檢查比長(zhǎng)儀上下測(cè)頭球面孔內(nèi)是否有砂粒等臟物。
4、 測(cè)量試體讀數(shù)時(shí),首先讀表盤內(nèi)小表針?biāo)甘镜臄?shù)值,然后再讀大表針?biāo)甘镜臄?shù)值。
5、 比長(zhǎng)儀是一種精密的測(cè)量?jī)x器,在使用過程中一定要輕拿輕放,保持整潔。
比長(zhǎng)儀是由刻度盤1、千分表2、上測(cè)頭3、90°V型槽支架4、下測(cè)頭5、標(biāo)準(zhǔn)桿6、底座等組成。它具有使用方便、測(cè)量精度高、速度快、讀數(shù)清楚等優(yōu)點(diǎn)。為了滿足用戶的使用要求,支架采用V型槽式,上下測(cè)頭采用平面測(cè)頭,這種方法提高了測(cè)量精度和準(zhǔn)確性,可供廣大用戶試驗(yàn)檢測(cè)用。
比長(zhǎng)儀按結(jié)構(gòu)布局分為縱向的和橫向的兩類??v向比長(zhǎng)儀采用線紋尺作為已知長(zhǎng)度,且結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)符合阿貝原則,稱為阿貝比長(zhǎng)儀。測(cè)量時(shí),先用測(cè)量顯微鏡瞄準(zhǔn)被測(cè)線條,從讀數(shù)顯微鏡讀得一數(shù)值。然后移動(dòng)工作臺(tái),再用測(cè)量顯微鏡瞄準(zhǔn)另一被測(cè)線條,從讀數(shù)顯微鏡讀得另一數(shù)值。這兩個(gè)數(shù)值之差即是被測(cè)兩線條間距離。
橫向比長(zhǎng)儀的被測(cè)長(zhǎng)度和已知長(zhǎng)度是并列布置的,這種布局可以縮短導(dǎo)軌長(zhǎng)度,但要求導(dǎo)軌精度高。采用愛賓斯坦光學(xué)系統(tǒng),可以補(bǔ)償結(jié)構(gòu)不符合阿貝原則而產(chǎn)生的測(cè)量誤差。以光電顯微鏡代替上述兩種顯微鏡者,稱為光電比長(zhǎng)儀;采用激光或其他單色光波長(zhǎng)作為已知長(zhǎng)度者,分別稱為激光比長(zhǎng)儀和光電光波比長(zhǎng)儀。阿貝比長(zhǎng)儀的測(cè)量精確度為±1~±1.5微米/200毫米,光電比長(zhǎng)儀可達(dá)到±0.5微米/1000毫米,而光電光波比長(zhǎng)儀和激光比長(zhǎng)儀則可達(dá)到±0.2微米/1000毫米。
華為IQC的儀器是:刷卡-雙腳踩踏板-單手按住測(cè)試按鈕1-2秒-測(cè)試通過-亮綠燈pass-亮紅燈NG-清理防靜電鞋底部的灰塵-重復(fù)先前步驟-pass通過。
1. 將盛筒內(nèi)部拭凈,放于工作臺(tái)上,然后開啟電源開關(guān),機(jī)器開始充電。 2. 按照計(jì)算配合比試拌的新調(diào)砂漿傾于盛漿筒內(nèi)離筒頂約1厘米為止,將盛漿筒顫動(dòng)使砂...
表面振動(dòng)壓實(shí)儀操作規(guī)程誰了解?
您好,如下: 1、確認(rèn)三相四線電源是否連接正確,檢查控制面板上電源指示燈。 2、按試驗(yàn)規(guī)程要求制備試樣。 3、選擇并安裝合適的試驗(yàn)筒固定在底板上,裝上套筒,旋緊螺栓與試筒緊密固定。 4、按試驗(yàn)規(guī)程要求...
比長(zhǎng)儀是以不接觸光學(xué)定位方法瞄準(zhǔn)被測(cè)長(zhǎng)度,主要用于測(cè)量線紋距離的精密長(zhǎng)度測(cè)量工具。
比長(zhǎng)儀一般采用測(cè)量顯微鏡或光電顯微鏡作為瞄準(zhǔn)定位部件,并以精密線紋尺的刻度或光波波長(zhǎng)作為已知長(zhǎng)度,與被測(cè)長(zhǎng)度比較而確定量值。比長(zhǎng)儀主要用于檢定線紋尺,測(cè)量分劃板上的線距和物理、天文類照相底片上的光波譜線距離,也可用于測(cè)量孔徑。
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經(jīng)偉儀操作規(guī)程 一、操作前準(zhǔn)備: 1、到達(dá)工作地點(diǎn)后,要先打開經(jīng)緯儀箱蓋,使儀器與 環(huán)境一致。 2、打開三角架,調(diào)節(jié)好腳架高度使架頭大致水平,穩(wěn) 固地架設(shè)在所測(cè)角點(diǎn)的上方。 3、用中心連接螺釘將經(jīng)緯儀固連在在角架上。 二、操作規(guī)程: 1、對(duì)中: (1) 對(duì)中時(shí),在連接中心螺旋的鉤上懸掛垂球移動(dòng)三角 架,使垂球尖大致對(duì)準(zhǔn)測(cè)站點(diǎn),將三角架的各腳 穩(wěn)固地踩 入地中。 (2) 若垂球尖偏離測(cè)站點(diǎn)較大,需平移腳架,使垂球尖 大致對(duì)準(zhǔn)測(cè)站點(diǎn),再踩緊腳架;若偏離較小,可略旋移連接 中心螺旋,將儀器在架頭的圈孔范圍內(nèi)移動(dòng),使垂球 尖對(duì) 準(zhǔn)測(cè)站點(diǎn),再擰緊連接中心螺旋。 (3) 使用光學(xué)對(duì)中器進(jìn)行對(duì)中時(shí),應(yīng)首先目估對(duì)中和使 儀器概略整平。用光學(xué)對(duì)中器是地,先要對(duì)光,然后將儀器 在架頭上平移,交替使用對(duì)中和整平的方法,直到測(cè)站點(diǎn)的 像落在對(duì)中器圓圈的中央,達(dá)到既對(duì)中又整平。 ,最后擰緊 中心連接螺旋。 2、整平
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全站儀操作規(guī)程 一、使用前,應(yīng)認(rèn)真閱讀全站儀使用手冊(cè)或相關(guān)使用說明書, 操作者應(yīng)確保 熟悉儀器性能,理解和掌握儀器的操作流程。 二、使用中,嚴(yán)格遵守操作流程,確保測(cè)量值正確無誤。 三、禁止在高粉塵或靠近易燃物品環(huán)境下使用儀器,以免發(fā)生意外。 四、禁止自行拆卸和重裝儀器, 禁止將儀器置于鎖扣、 背帶或提柄已受損的 儀器箱內(nèi),作業(yè)時(shí),應(yīng)注意檢校儀器及校準(zhǔn)基座光學(xué)對(duì)點(diǎn)照,開機(jī)后,對(duì)儀器中 棱鏡常數(shù)的設(shè)定進(jìn)行檢查, 長(zhǎng)期不使用時(shí), 電池應(yīng)從儀器中取出并二個(gè)月對(duì)電池 進(jìn)行一次充電。 五、禁止坐在儀器箱上,或在儀器箱上放置重物。 六、正確使用電池和充電器。 七、將儀器架設(shè)在三角架上時(shí), 務(wù)必固緊三角基座制動(dòng)桿和中心螺旋, 以免 儀器跌落。 八、注意防水,防止儀器受到強(qiáng)烈的沖擊或振動(dòng)。 九、遷站時(shí),必須將儀器從三角架上取下。 十、取電池前,務(wù)必先關(guān)閉電源開關(guān)。 十一、禁止使用未進(jìn)行定檢的儀器或過期使用。
阿貝比長(zhǎng)儀改進(jìn)型比長(zhǎng)儀
針對(duì)誤差產(chǎn)生的原因,對(duì)原阿貝比長(zhǎng)儀的一種改進(jìn)。
⑴用容柵千分尺代替阿基米德螺線細(xì)分結(jié)構(gòu)。
容柵千分尺讀數(shù)可分辨到0. 1μm,如果通過合理的設(shè)計(jì)安排,利用容柵千分尺來代替阿貝比長(zhǎng)儀,測(cè)微目鏡中的光學(xué)放大加阿基米德螺線細(xì)分結(jié)構(gòu),就可以有效消除在前面關(guān)于比長(zhǎng)儀主要儀器誤差來源中提出的,由于物鏡放大倍數(shù)不準(zhǔn)及旋轉(zhuǎn)分劃板上阿基米德螺線偏心所引起的誤差。
⑵對(duì)儀器分劃板的改造
通過前面的改造,雖然完全消除了讀數(shù)顯微鏡物鏡放大倍數(shù)不準(zhǔn)及阿基米德螺線偏心帶來的誤差,但判讀方法并不理想,為了能更好地進(jìn)行判讀。參照原測(cè)微目鏡固定分劃板的尺寸,設(shè)計(jì)、改裝了如圖所示的分劃板。
比長(zhǎng)儀可以完全去掉結(jié)構(gòu)復(fù)雜的測(cè)微目鏡,故可大幅度降低儀器的制造成本。如果用一個(gè)放大倍率更大的目鏡則可提高測(cè)量的判讀精度(原儀器將讀數(shù)顯微鏡目鏡的倍率設(shè)計(jì)為5 倍,是為了有2 mm 的視場(chǎng),改造后則無此要求)。通過容柵千分尺自帶的串行通訊口,還可實(shí)現(xiàn)用計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)采集數(shù)據(jù)。
內(nèi)孔比長(zhǎng)儀是測(cè)量圓柱體工件高精度孔徑的精密量?jī)x,可以測(cè)量孔的內(nèi)徑,錐度和橢圓度。
比長(zhǎng)儀是由1、千分表2、上測(cè)頭3、90°V型槽支架4、下測(cè)頭5標(biāo)準(zhǔn)桿6、底座等組成。它具有使用方便、測(cè)量精度高、速度快、讀數(shù)清楚等優(yōu)點(diǎn)。為了滿足用戶的使用要求,支架采用V型槽式,上下測(cè)頭采用平面測(cè)頭,這種方法提高了測(cè)量精度和準(zhǔn)確性,可供廣大用戶試驗(yàn)檢測(cè)用。