1、目數(shù)是只有正沒(méi)有負(fù)的。2、200目的尺寸是74微米(UM)換算成毫米(mm)是0.0750mm。3、400目的尺寸是38微米(UM)換算成毫米(mm)是0.0374mm。4、關(guān)于目數(shù)的+ -我給你...
金相組織與晶粒度檢驗(yàn)有什么區(qū)別?二者的使用范圍相同么?
金相是檢測(cè)試樣的內(nèi)部組織形貌、析出物等,晶粒度只是測(cè)量晶粒的大小。兩者都可以在顯微鏡下完成。一般都采用比較法測(cè)定晶粒度,在用比較法測(cè)定時(shí),應(yīng)遵循下面的評(píng)定原則:a. 試樣制好后,在100倍的顯微鏡下測(cè)...
純銅的熱處理規(guī)范?退火溫度和保溫時(shí)間范圍得到的晶粒度大???
材料工程大典 第四卷 有色金屬材料工程(上)有關(guān)于純銅 力學(xué)性能 與晶粒度的關(guān)系曲線 不知道有沒(méi)有用ps:不知道你是想做什么,對(duì)于銅 即使在相同退火溫度、相同保溫時(shí)間下,冷變形程度不同,晶粒度也會(huì)不同...
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v1.0 可編輯可修改 1 安裝單位施工范圍 1、15#樓、16#樓橋架(監(jiān)控、電話、網(wǎng)絡(luò)、 )智能化負(fù)責(zé)施工 2、地庫(kù)弱電橋架、智能化負(fù)責(zé)施工 3、單體豎井弱電橋架及水平橋架、消防負(fù)責(zé)施工 4、消控室 UPS不間斷電源、智能化負(fù)責(zé)施工 5、消控室強(qiáng)電箱及進(jìn)線電纜,三標(biāo)總包負(fù)責(zé)施工 6、消控室強(qiáng)電箱到 UPS不間斷電源電纜、智能化負(fù)責(zé)施工 7、消控室等電位箱三標(biāo)總包負(fù)責(zé)施工 8、地庫(kù)紅外移動(dòng)探測(cè)器,各家總包負(fù)責(zé)施工 9、所有強(qiáng)電箱有總包負(fù)責(zé)自己施工 10、風(fēng)機(jī)強(qiáng)電箱到控制箱電纜,及控制箱,消防負(fù)責(zé)施工 11、防火卷簾強(qiáng)電箱到控制箱電纜、消防負(fù)責(zé)施工 12、地庫(kù)電信橋架總包負(fù)責(zé)施工 13、單體廚房間給水閥門到太陽(yáng)能電磁閥管路、總包負(fù)責(zé)施工 14、消防泵房強(qiáng)電箱到水泵電纜及穿線管路、消防負(fù)責(zé)施工 15、12#樓穩(wěn)壓泵電源箱及電纜及穿線、總包負(fù)責(zé)施工 16、水箱補(bǔ)水系統(tǒng)、消防負(fù)責(zé)施工 17、廚
SEM、TEM;1nm~5μm范圍。適合納米材料的粒度大小和形貌分析。
沉降法(Sedimentation Size Analysis) 沉降法的原理是基于顆粒在懸浮體系時(shí),顆粒本身重力(或所受離心力)、所受浮力和黏滯阻力三者平衡,并且黏滯力服從斯托克斯定律來(lái)實(shí)施測(cè)定的,此時(shí)顆粒在懸浮體系中以恒定速度沉降,且沉降速度與粒度大小的平方成正比。10nm~20μm的顆粒。
激光衍射式粒度儀僅對(duì)粒度在5μm以上的樣品分析較準(zhǔn)確,而動(dòng)態(tài)光散射粒度儀則對(duì)粒度在5μm以下的納米樣品分析準(zhǔn)確。
激光光散射法可以測(cè)量20nm-3500μm的粒度分布,獲得的是等效球體積分布,測(cè)量準(zhǔn)確,速度快,代表性強(qiáng),重復(fù)性好,適合混合物料的測(cè)量。
利用光子相干光譜方法可以測(cè)量1nm-3000nm范圍的粒度分布,特別適合超細(xì)納米材料的粒度分析研究。測(cè)量體積分布,準(zhǔn)確性高,測(cè)量速度快,動(dòng)態(tài)范圍寬,可以研究分散體系的穩(wěn)定性。其缺點(diǎn)是不適用于粒度分布寬的樣品測(cè)定。
測(cè)量范圍廣,最先進(jìn)的激光光散射粒度測(cè)試儀可以測(cè)量1nm~3000μm,基本滿足了超細(xì)粉體技術(shù)的要求。
測(cè)定速度快,自動(dòng)化程度高,操作簡(jiǎn)單。一般只需1~1.5min 。
測(cè)量準(zhǔn)確,重現(xiàn)性好。
可以獲得粒度分布。
通過(guò)光子相關(guān)光譜(PCS)法,可以測(cè)量粒子的遷移速率。而液體中的納米顆粒以布朗運(yùn)動(dòng)為主,其運(yùn)動(dòng)速度取決于粒徑,溫度和粘度等因素。在恒定的溫度和粘度條件下,通過(guò)光子相關(guān)光譜(PCS)法測(cè)定顆粒的遷移速率就可以獲得相應(yīng)的顆粒粒度分布 。
光子相關(guān)光譜(pcs)技術(shù)能夠測(cè)量粒度度為納米量級(jí)的懸浮物粒子,它在納米材料,生物工程、藥物學(xué)以及微生物領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用前景。
優(yōu)點(diǎn)是可以提供顆粒大小,分布以及形狀的數(shù)據(jù)。此外,一般測(cè)量顆粒的大小可以從1納米到幾個(gè)微米數(shù)量級(jí) 。
并且給的是顆粒圖像的直觀數(shù)據(jù),容易理解。但其缺點(diǎn)是樣品制備過(guò)程會(huì)對(duì)結(jié)果產(chǎn)生嚴(yán)重影響,如樣品制備的分散性,直接會(huì)影響電鏡觀察質(zhì)量和分析結(jié)果。電鏡取樣量少,會(huì)產(chǎn)生取樣過(guò)程的非代表性。
適合電鏡法粒度分析的儀器主要有掃描電鏡和透射電鏡。普通掃描電鏡的顆粒分辨率一般在6nm左右,場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的分辨率可以達(dá)到0.5nm。
掃描電鏡對(duì)納米粉體樣品可以進(jìn)行溶液分散法制樣,也可以直接進(jìn)行干粉制樣。對(duì)樣品制備的要求比較低,但由于電鏡對(duì)樣品有求有一定的導(dǎo)電性能,因此,對(duì)于非導(dǎo)電性樣品需要進(jìn)行表面蒸鍍導(dǎo)電層如表面蒸金,蒸碳等。一般顆粒在10納米以下的樣品比較不能蒸金,因?yàn)榻痤w粒的大小在8納米左右,會(huì)產(chǎn)生干擾的,應(yīng)采取蒸碳方式。
掃描電鏡有很大的掃描范圍,原則上從1nm到mm量級(jí)均可以用掃描電鏡進(jìn)行粒度分析。而對(duì)于透射電鏡,由于需要電子束透過(guò)樣品,因此,適用的粒度分析范圍在1-300nm之間。
對(duì)于電鏡法粒度分析還可以和電鏡的其他技術(shù)連用,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)顆粒成份和晶體結(jié)構(gòu)的測(cè)定,這是其他粒度分析法不能實(shí)現(xiàn)的。
沉降法又分為:沉降天平、光透沉降、離心沉降等 。
斯托克斯Stokes 定律 : 根據(jù)不同粒徑的顆粒在液體中的沉降速度不同測(cè)量粒度分布的一種方法。它的基本過(guò)程是把樣品放到某種液體中制成一定濃度的懸浮液,懸浮液中的顆粒在重力或離心力作用下將發(fā)生沉降。大顆粒的沉降速度較快,小顆粒的沉降速度較慢。斯托克斯Stokes 定律是沉降法粒度測(cè)試的基本理論依據(jù);
該法在涂料和陶瓷等工業(yè)中是一種傳統(tǒng)的粉體粒徑測(cè)試方法。已制定的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn) ( ISO 3262 Extenders for Paint Specifications andMethods of Test) 對(duì)涂料中常用的 21 種體質(zhì)顏料的粒度分布測(cè)試方法 , 測(cè)試原理均基于沉降法。
按照被測(cè)試樣的粒徑大小及分布范圍,將大小不同篩孔的篩子疊放在一起進(jìn)行篩分,收集各個(gè)篩子的篩余量,稱量求得被測(cè)試樣以重量計(jì)的顆粒粒徑分布。
優(yōu)點(diǎn) :成本低,使用容易。
缺點(diǎn) :對(duì)小于400目(38um)的干粉很難測(cè)量。不能測(cè)量射流或乳濁液;在測(cè)量針狀樣品時(shí)這會(huì)得到一些奇怪的結(jié)果。難以給出詳細(xì)的粒度分布;操作復(fù)雜,結(jié)果受人為因素影響較大;所謂某某粉體多少目,是指用該目數(shù)的篩篩分后的篩余量小于某給定值。如果不指明篩余量,“目”的含義是模糊的,給溝通帶來(lái)不便。
超聲波發(fā)生端(RF Generator) 發(fā)出一定頻率和強(qiáng)度的超聲波,經(jīng)過(guò)測(cè)試區(qū)域,到達(dá)信號(hào)接收端(RF Detector)。當(dāng)顆粒通過(guò)測(cè)試區(qū)域時(shí),由于不同大小的顆粒對(duì)聲波的吸收程度不同,在接收端上得到的聲波的衰減程度也就不一樣,根據(jù)顆粒大小同超聲波強(qiáng)度衰減之間的關(guān)系,得到顆粒的粒度分布,同時(shí)還可測(cè)得體系的固含量。
射線的波長(zhǎng)比納米還要短,因此X射線小角散射是一種測(cè)量納米顆粒的理想方法。
顆粒圖像法有靜態(tài)、動(dòng)態(tài)兩種測(cè)試方法:
靜態(tài)方式使用改裝的顯微鏡系統(tǒng),配合高清晰攝像機(jī),將顆粒樣品的圖像直觀的反映到電腦屏幕上,配合相關(guān)的計(jì)算機(jī)軟件可進(jìn)行顆粒大小、形狀、整體分布等屬性的計(jì)算;
動(dòng)態(tài)方式具有形貌和粒徑分布雙重分析能力。重建了全新循環(huán)分散系統(tǒng)和軟件數(shù)據(jù)處理模塊,解決了靜態(tài)顆粒圖像儀的制樣繁瑣、采樣代表性差、顆粒粘連等缺陷;
原理:粉末樣品的氣體透過(guò)能力與粉末的比表面有關(guān),籍此求出樣品的比表面積并由此得到顆粒的平均粒度
樣品要求:均勻干燥,形狀等軸性好,施壓時(shí)不易變形,破碎或聚結(jié)
取樣量應(yīng)為試樣真密度的兩倍以上,且真密度已知
常用于質(zhì)量或生產(chǎn)控制的基本判斷,設(shè)備簡(jiǎn)單,操作方便
缺點(diǎn):分辨率低,重現(xiàn)性差,人為因素影響較大
粒度是礦粒(或礦塊)大小的量度。通常用“粒子的直徑”來(lái)表示。在選礦中,由于單個(gè)礦粒是不規(guī)則的,而一群礦粒中的各個(gè)粒子大小也不同,習(xí)慣上用平均直徑表示它的粒度大小。
由于實(shí)際顆粒形狀復(fù)雜,用來(lái)表示粒度的方法很多,最常見的為各種當(dāng)量直徑φ,如和顆粒體積相同的球的直徑稱為等體積球當(dāng)量徑,和顆粒投影面積或周長(zhǎng)相等的圓的直徑分別稱為投影圓當(dāng)量徑或等周長(zhǎng)圓當(dāng)量徑,平行于一定方向測(cè)得的一維尺寸稱為定向徑,包括費(fèi)雷特(Feret)徑、馬丁(Martin)徑和定向最大徑等。
粒級(jí)是物料顆粒的粒度范圍,以粒度范圍的上下限表示。例如,50~25mm粒級(jí),表示其粒級(jí)上限為50mm,下限為25mm。粒級(jí)上限為給定粒級(jí)中最大的粒度。粒級(jí)下限為給定粒級(jí)中最小粒度。中國(guó)煤炭篩分試驗(yàn)和商品煤的粒級(jí)劃分見 《煤炭篩分試驗(yàn)方法》GB477和 《煤炭粒度分級(jí)》GB189等。
分布中的較高的那個(gè)分布1%,因?yàn)檫@是把分布精確地分成二等份的點(diǎn)。最頻值將位于最高曲線頂部對(duì)應(yīng)的粒徑。由此可見,平均值、中值和最頻值有時(shí)是相同的,有時(shí)是不同的,這取決于樣品的粒度分布的形態(tài)。
?() D[4,3]是體積或質(zhì)量動(dòng)量平均值。
?()D[V,0.5]是體積(v)中值直徑,有時(shí)表示為D50或D0.5 ? D[3,2]是表面積動(dòng)量平均值。
粒度級(jí) cut
分級(jí)后介于兩種名義粒度界限內(nèi)的粉末部分。2100433B