地質(zhì)剖面測(cè)量

①剖面線一般沿著勘探線方向布設(shè)，剖面線之間互相平行、間隔相等。因此，在進(jìn)行剖面測(cè)量時(shí)要確保各剖面線的方向及間距符合精度要求。

②剖面線上的勘探工程(如鉆孔)的位置．是用于設(shè)計(jì)和儲(chǔ)量計(jì)算的依據(jù)，它比普通的地形點(diǎn)或地質(zhì)點(diǎn)的精度要求要高。因此勘探工程的位置要采用極坐標(biāo)法、交會(huì)法、GPSRTK技術(shù)等測(cè)定其坐標(biāo)，而普通的地形點(diǎn)或地質(zhì)點(diǎn)可采用精度要求不高的方法，如視距法等。

③地質(zhì)剖面測(cè)量貫穿于地質(zhì)普查和勘探的整個(gè)過程中。普查精度要求不高的剖面可以在已有的地形地質(zhì)圖上切繪，對(duì)于精度要求高的剖面圖必須實(shí)測(cè)。如地表有礦時(shí)，對(duì)地形剖面線上的任一點(diǎn)的高程都有較高的精度要求，應(yīng)實(shí)測(cè)剖面地形。 2100433B

地質(zhì)剖面測(cè)量的目的是為了了解各個(gè)時(shí)代的地層層序、地層或巖層的厚度、巖性特征、標(biāo)志層以及構(gòu)造形態(tài)等。其用途包括：

①提供勘探設(shè)計(jì)工程布設(shè)、儲(chǔ)量計(jì)算和綜合研究資料。

②正確地設(shè)計(jì)勘探工程的位置和加密勘探工程的位置都需要剖面圖作為設(shè)計(jì)依據(jù)，以便有效地掌握工程問相互關(guān)系和礦體變化情況。

③在儲(chǔ)量計(jì)算中，各個(gè)剖面的間距和同一剖面線上各勘探工程的間距，是控制礦體位置和大小的基本數(shù)據(jù)。

剖面測(cè)量的任務(wù)是測(cè)定剖面線上地形點(diǎn)、地物點(diǎn)及工程點(diǎn)的位置和高程。

進(jìn)行剖面測(cè)量時(shí)剖面線端點(diǎn)、定向點(diǎn)、控制點(diǎn)均可設(shè)站，根據(jù)剖面圖的比例尺、精度要求、設(shè)備和地形條件，可采用全站儀數(shù)字測(cè)圖法、經(jīng)緯儀視距法等。

剖面點(diǎn)的密度，取決于剖面圖的比例尺、地形條件等，通常是剖面圖上間距為一厘米測(cè)一剖面點(diǎn)。

剖面測(cè)量施測(cè)方法：安置經(jīng)緯儀于1點(diǎn)，照準(zhǔn)剖面線上的端點(diǎn)或轉(zhuǎn)點(diǎn)，根據(jù)視線方向，測(cè)出剖面線上的2、3、4、…點(diǎn)相對(duì)于1點(diǎn)的平距和高差。當(dāng)視線太長或不通視，可遷站于其他點(diǎn)，仍按上述方法進(jìn)行測(cè)定。

實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面是根據(jù)研究目的，按照一定的要求，在地表沿某一選定方向，將不同巖層、巖體、接觸關(guān)系、各種構(gòu)造形態(tài)、巖層產(chǎn)狀等進(jìn)行實(shí)測(cè)記錄并采集標(biāo)本，然后按照一定比例尺、用不同的巖性花紋、符號(hào)及各種注記，繪制實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面。研究的目的不同，對(duì)實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面的選線原則、比例尺大小、研究內(nèi)容和圖件的表述等方面有著一定的差異。實(shí)測(cè)剖面資料是劃分填圖單位和填圖工作的前提。

實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面圖（surveyed geological profile）簡(jiǎn)稱“實(shí)測(cè)剖面”。用儀器（經(jīng)緯儀，平板儀）或精密度較低的儀器和工具（羅盤、測(cè)斜儀，視距望遠(yuǎn)鏡，氣壓計(jì)，測(cè)繩、皮尺等）通過實(shí)地測(cè)繪而制成的地質(zhì)剖面圖。對(duì)于精度要求較高的各種地質(zhì)剖面圖，如布置鉆孔和坑探工程的勘探剖面圖，用于儲(chǔ)量計(jì)算的剖面圖等等，均需通過實(shí)地準(zhǔn)確測(cè)繪。

隨手地質(zhì)剖面圖（free hand profile，sketch profile）又稱“信手剖面圖”或“順手剖面圖”，是以目測(cè)的方法勾繪出的地質(zhì)剖面圖。其特點(diǎn)是作圖快、精度低、僅能粗略表示剖面的地質(zhì)現(xiàn)象。在地質(zhì)觀察路線工作過程中，常采用此種圖件作為地質(zhì)記錄的補(bǔ)充和輔助資料。