中文名 | 碳纖維體積電阻率試驗(yàn)方法四探針?lè)?/td> | 外文名 | Test method for carbon fiber electrical resistivity by Four-probe method |
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標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) | T/CSTM 00252—2020 | 發(fā)布日期 | 2020年07月24日 |
實(shí)施日期 | 2020年10月24日 |
航天材料及工藝研究所,先進(jìn)功能復(fù)合材料技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用四探針?lè)y(cè)量碳纖維復(fù)絲和單絲體積電阻率的原理、測(cè)量?jī)x器、樣品要求、試驗(yàn)條件、測(cè)量程序、結(jié)果的計(jì)算和試驗(yàn)報(bào)告等。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于1K~24K各類碳纖維體積電阻率的測(cè)量,也可推廣應(yīng)用于導(dǎo)電類線材體積電阻率測(cè)量。模量大于600GPa的纖維不宜采用復(fù)絲電阻率測(cè)量方法,電阻率大于15μΩ"sup--normal" data-sup="1" data-ctrmap=":1,"> [1] 2100433B
陳聰慧、何鳳梅、潘月秀、楊景興、劉曉龍、朱世鵬、楊云華。
你好,35KV及以下交聯(lián)聚乙烯絕緣電力電纜 超低頻(0.1HZ)耐壓試驗(yàn)方法 Very-Low-...
B.1 測(cè)量目的測(cè)量土壤電阻率ρ的目的是為了進(jìn)行有效的接地設(shè)計(jì)。 B.2 一般原則 B.2.1土壤電阻率是土壤的一種基本物理特性,是土壤在單位體積內(nèi)的正方體相對(duì)兩面間在一定電場(chǎng)作用下,對(duì)電流的導(dǎo)電性能...
首先搞清換算單位,就感覺(jué)簡(jiǎn)單了.從Ω到KΩ、從KΩ到MΩ都是千制位,即1000Ω=1KΩ、1000KΩ=1MΩ.那么1MΩ=1000000Ω.1)400Ω=0.4KΩ=0.0004MΩ 2)1.5KΩ...
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將3種銀粉,即:片狀銀粉、片狀銀粉加入5%納米銀粉的混合粉、片狀銀粉加入10%納米銀粉的混合粉,加入雙酚F環(huán)氧樹脂中配制導(dǎo)電膠。通過(guò)在玻璃基片上印刷導(dǎo)電膠條,固化后測(cè)量其長(zhǎng)、寬、厚和電阻,利用公式ρ=Rs/l計(jì)算體積電阻率。結(jié)果表明,當(dāng)納米銀粉添加量為5%時(shí),體積電阻率出現(xiàn)明顯下降,混合銀粉含量為75%時(shí)的體積電阻率能達(dá)到1.6×10-4?·cm。在接近"穿流閾值"時(shí),加入納米銀粉可以增大顆粒間的接觸面積,形成更多的導(dǎo)電通路,能降低導(dǎo)電膠的體積電阻率。
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制備了一種單組分、各向同性導(dǎo)電膠。利用四探針?lè)y(cè)定了導(dǎo)電銀膠中不同銀粉含量下導(dǎo)電膠的體積電阻率,不同銀粉含量下導(dǎo)電銀膠的掃描電鏡圖,探索了銀粉含量對(duì)導(dǎo)電膠性能的影響規(guī)律。
四探針?lè)ɑ竞?jiǎn)介
四探針?lè)ㄍǔS脕?lái)測(cè)量半導(dǎo)體的電阻率。四探針?lè)y(cè)量電阻率有個(gè)非常大的優(yōu)點(diǎn),它不需要校準(zhǔn);有時(shí)用其它方法測(cè)量電阻率時(shí)還用四探針?lè)ㄐ?zhǔn)。
與四探針?lè)ㄏ啾龋瑐鹘y(tǒng)的二探針?lè)ǜ奖阈?,因?yàn)樗恍枰僮鲀蓚€(gè)探針,但是處理二探針?lè)ǖ玫降臄?shù)據(jù)卻很復(fù)雜。如圖一,電阻兩端有兩個(gè)探針接觸,每個(gè)接觸點(diǎn)既測(cè)量電阻兩端的電流值,也測(cè)量了電阻兩端的電壓值。我們希望確定所測(cè)量的電阻器的電阻值,總電阻值:
RT = V/I = 2RW + 2RC + RDUT;
其中RW是導(dǎo)線電阻,RC是接觸電阻,RDUT是所要測(cè)量的電阻器的電阻,顯然用這種方法不能確定RDUT的值。矯正的辦法就是使用四點(diǎn)接觸法,即四探針?lè)?。如圖二,電流的路徑與圖一中相同,但是測(cè)量電壓使用的是另外兩個(gè)接觸點(diǎn)。盡管電壓計(jì)測(cè)量的電壓也包含了導(dǎo)線電壓和接觸電壓,但由于電壓計(jì)的內(nèi)阻很大,通過(guò)電壓計(jì)的電流非常小,因此,導(dǎo)線電壓與接觸電壓可以忽略不計(jì),測(cè)量的電壓值基本上等于電阻器兩端的電壓值。
通過(guò)采用四探針?lè)ㄈ〈结樂(lè)?,盡管電流所走的路徑是一樣的,但由于消除掉了寄生壓降,使得測(cè)量變得精確了。四探針?lè)ㄔ贚ord Kelvin使用之后,變得十分普及,命名為四探針?lè)ā?/p>
數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)
而設(shè)計(jì)的,專用于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專
用儀器。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)
量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到
計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
對(duì)于半導(dǎo)體材料的電阻率,一般采用四探針、三探針和擴(kuò)展電阻。
電阻率是反映半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的重要參數(shù)之一。測(cè)量電阻率的方法很多,四探針?lè)ㄊ且环N廣泛采用的標(biāo)準(zhǔn)方法。它的優(yōu)點(diǎn)是設(shè)備簡(jiǎn)單、操作方便,精確度高,對(duì)樣品的形狀無(wú)嚴(yán)格要求。
最常用的是直線型四探針。四根探針的針尖在同一直線上,并且間距相等,都是S,一般采用0.5mm的間距,不同的探針間距需要對(duì)測(cè)量結(jié)果做相應(yīng)的校正。
一般四探針電阻率(電導(dǎo)率)測(cè)試儀均已配置厚度的修正,通過(guò)厚度數(shù)值的設(shè)置,計(jì)算出不同的樣品厚度對(duì)電阻率的影響。
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