黃山市捷達(dá)探傷器材有限公司

射線探傷的常用器材有膠片、增感屏、像質(zhì)計(jì)等。

一、膠片

射線膠片與普通膠片除了感光乳劑成分有所不同外，其他的主要不同是射線膠片一般是雙面涂布感光乳劑層，普通膠片是單面涂布感光乳劑層；射線膠片的感光乳劑層厚度遠(yuǎn)大于普通膠片的感光乳劑層厚度。這主要是為了能更多地吸收射線的能量。但感光最慢、顆粒最細(xì)的射線膠片也是單面涂布乳劑層。

膠片的感光特性是指膠片曝光后（經(jīng)暗室處理）得到的底片黑度（光學(xué)密度）與曝光量的關(guān)系。主要的感光特性包括感光度（S）、梯度（G）、灰霧度（D₀）及寬容度等，感光特性曲線集中反應(yīng)了這些感光特性。

在可見光或射線照射下，膠片感光乳劑層中可以形成眼睛看不見的潛在的影像，稱為“潛影”，經(jīng)過顯影處理，潛影可轉(zhuǎn)化為可見的影像。

在照相乳劑的制備過程中，在感光乳劑層中將形成“感光中心”—鹵化銀微粒表面的一些部分，由于存在中性銀原子和硫化銀而提高了對(duì)光的反應(yīng)能力，它是潛影形成的基礎(chǔ)。潛影形成可分為四個(gè)階段。

在工業(yè)射線照相中使用的膠片，從大的方面分為兩種類型：增感型膠片；非增感型膠片（直接型膠片）。增感型膠片是指適宜與熒光增感屏配合使用的膠片，非增感型膠片適于與金屬增感屏一起使用或不用增感屏直接使用。

增感型膠片當(dāng)不與熒光增感屏配合使用時(shí)，其感光度將比使用熒光增感屏?xí)r低很多。增感型膠片也可與金屬增感屏一起使用，這時(shí)與感光度近似的非增感型膠片相比，它所得到的影像的對(duì)比度要低一些。非增感型膠片不適宜與熒光增感屏配合。按照近年來射線照相技術(shù)發(fā)展的情況，在射線照相中一般不使用增感型膠片 。

二、增感屏

當(dāng)射線入射到膠片時(shí)，由于射線的穿透能力很強(qiáng)，大部分穿過膠片，膠片僅吸收入射射線很少的能量。為了更多地吸收射線的能量，縮短曝光時(shí)間，在射線照相檢驗(yàn)中，常使用前、后增感屏貼附在膠片兩側(cè)，與膠片一起進(jìn)行射線照相，利用增感屏吸收一部分射線能量，達(dá)到縮短曝光時(shí)間的目的。

描述增感屏增感性能的主要指標(biāo)是增感系數(shù)。

增感屏主要有三種類型：金屬增感屏、熒光增感屏、復(fù)合增感屏（金屬熒光增感屏）。

增感屏具有增感作用，但必須注意正確使用。使用時(shí)增感屏常分為前屏和后屏。前屏應(yīng)置于膠片朝向射線源一側(cè)，后屏置于另一側(cè)，膠片夾在兩屏之間。前屏應(yīng)采用適于射線能量的厚度，后屏厚度經(jīng)常較大，以便同時(shí)具有吸收背景產(chǎn)生的散射線的作用。為了操作的方便，實(shí)際上經(jīng)常選用同樣厚度的前屏和后屏，而另外在暗袋外面附加一定厚度的鉛板屏蔽環(huán)境產(chǎn)生的散射線。

三種類型增感屏具有不同的特點(diǎn)，適應(yīng)不同的要求。對(duì)一般技術(shù)和較高技術(shù)都應(yīng)采用金屬增感屏，只有在特殊的情況下，當(dāng)采用熒光增感屏或金屬熒光增感屏也能達(dá)到檢驗(yàn)質(zhì)量要求時(shí)，才能使用熒光增感屏或金屬熒光增感屏。

三、像質(zhì)計(jì)

像質(zhì)計(jì)（像質(zhì)指示器，透度計(jì)）是測(cè)定射線照片的射線照相靈敏度的器件，根據(jù)在底片上顯示的像質(zhì)計(jì)的影像，可以判斷底片影像的質(zhì)量，并可評(píng)定透照技術(shù)、膠片暗室處理情況、缺陷檢驗(yàn)?zāi)芰Φ取Ｗ顝V泛使用的像質(zhì)計(jì)主要是三種：絲型像質(zhì)計(jì)、階梯孔型像質(zhì)計(jì)、平板孔型像質(zhì)計(jì)，此外還有槽型像質(zhì)計(jì)和雙絲像質(zhì)計(jì)等。像質(zhì)計(jì)應(yīng)用與被檢驗(yàn)工件相同或?qū)ι渚€吸收性能相似的材料制做。

關(guān)于絲的直徑，各個(gè)國家一般都采用公比為 （近似為1.25）的等比數(shù)列決定的一個(gè)優(yōu)選數(shù)列（ISO/R10化整值系列），并對(duì)絲徑給以編號(hào)。

使用時(shí)，絲型像質(zhì)計(jì)放置的數(shù)量、位置和具體的安放方法等應(yīng)符合有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。一般的規(guī)定主要是，原則上每張底片上都應(yīng)有像質(zhì)計(jì)的影像，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在工件射線源側(cè)的表面上，且應(yīng)放置在透照區(qū)中靈敏度度差的部位。當(dāng)像質(zhì)計(jì)放置在工件膠片側(cè)表面時(shí)，應(yīng)附加標(biāo)記（一般是字母“F”）。多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)絲型像質(zhì)計(jì)的識(shí)別性都是規(guī)定，在底片上至少可清晰看到連續(xù)10mm長的絲狀影像時(shí)，則該絲認(rèn)為是可識(shí)別的。

四、其他設(shè)備和器材

為完成射線照相檢驗(yàn)，除需要上面敘述的設(shè)備器材外，還需要其他的一些設(shè)備和器材，下面列出了另外一些常用的小型設(shè)備和器材，但這并不是全部的器材，如暗盒、藥品等均未在此列出。

觀片燈

觀片燈是識(shí)別底片缺陷影像所需要的基本設(shè)備。對(duì)觀片燈的主要要求包括三個(gè)方面，即光的顏色、光源亮度、照明方式與范圍。

光的顏色一般應(yīng)為日光色；光源應(yīng)具有足夠的亮度且應(yīng)可調(diào)整，其最大亮度應(yīng)能達(dá)到與底片黑度相適應(yīng)的值。

黑度計(jì)

底片黑度是底片質(zhì)量的基本指標(biāo)之一，黑度計(jì)是測(cè)量底片黑度的設(shè)備。

在工業(yè)射線照相檢驗(yàn)中，作為底片質(zhì)量指標(biāo)的黑度，并不要求測(cè)量非常準(zhǔn)確，現(xiàn)行的標(biāo)準(zhǔn)一般規(guī)定，測(cè)量誤差應(yīng)不大于±0.1。因此，所使用的黑度計(jì)最基本的要求是滿足這一要求。為了滿足這個(gè)要求，一般應(yīng)要求黑度計(jì)的測(cè)量值的不確定度為0.05。

暗室設(shè)備和器材

標(biāo)記

探傷基本原理

超聲波探傷是利用超聲能透入金屬材料的深處，并由一截面進(jìn)入另一截面時(shí)，在界面邊緣發(fā)生反射的特點(diǎn)來檢查零件缺陷的一種方法，當(dāng)超聲波束自零件表面由探頭通至金屬內(nèi)部，遇到缺陷與零件底面時(shí)就分別發(fā)生反射波來，在螢光屏上形成脈沖波形，根據(jù)這些脈沖波形來判斷缺陷位置和大小。

探傷優(yōu)缺點(diǎn)

超聲波探傷比X射線探傷具有較高的探傷靈敏度、周期短、成本低、靈活方便、效率高，對(duì)人體無害等優(yōu)點(diǎn)；缺點(diǎn)是對(duì)工作表面要求平滑、要求富有經(jīng)驗(yàn)的檢驗(yàn)人員才能辨別缺陷種類、對(duì)缺陷沒有直觀性；超聲波探傷適合于厚度較大的零件檢驗(yàn)。

探傷主要特性

1、超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，在不同質(zhì)界面上具有反射的特性，如遇到缺陷，缺陷的尺寸等于或大于超聲波波長時(shí)，則超聲波在缺陷上反射回來，探傷儀可將反射波顯示出來；如缺陷的尺寸甚至小于波長時(shí)，聲波將繞過射線而不能反射；

2、波聲的方向性好，頻率越高，方向性越好，以很窄的波束向介質(zhì)中輻射，易于確定缺陷的位置。

3、超聲波的傳播能量大，如頻率為1MHZ（100萬赫茲）的超聲波所傳播的能量，相當(dāng)于振幅相同而頻率為1000HZ（赫茲）的聲波的100萬倍。

探傷缺陷分類

在焊縫超聲波探傷中一般把焊縫中的缺陷 分成三類：點(diǎn)狀缺陷、線狀缺陷、面狀缺陷。

在分類中把長度小于10mm的缺陷叫做點(diǎn)狀缺陷；一般不測(cè)長，小于10mm的缺陷按5mm計(jì)。把長度大于10mm的缺陷叫線狀缺陷。把長度大于10mm高度大于3mm的缺陷叫面狀缺陷。

探傷穿透能力

X射線穿透物質(zhì)的能力大小和射線本身的波長有關(guān)，波長越短（管電壓越高），其穿透能力越大，稱之為“硬”；反之則稱為“軟”。

探傷消失的原因

1、近表表大缺陷；2、吸收性缺陷；3、傾斜大缺陷；4、氧化皮與鋼板結(jié)合不好。

探傷主要因素

1、顯影時(shí)間；2、顯影液溫度；3、顯影液的搖動(dòng)；4、配方類型；5、老化程度。

探傷使用

一、超聲波探傷儀組成部分：主要有電路同步電路、發(fā)電路、接收電路、水平掃描電路、顯示器和電源等部份組成。

二、超聲波探頭的主要作用

1、探頭是一個(gè)電聲換能器，并能將返回來的聲波轉(zhuǎn)換成電脈沖；

2、控制超聲波的傳播方向和能量集中的程度，當(dāng)改變探 頭入射 角或改變超聲波的擴(kuò)散角時(shí)，可使聲波的主要能量按不同的角度射入介質(zhì)內(nèi)部或改變聲波的指向性，提高分辨率；

3、實(shí)現(xiàn)波型轉(zhuǎn)換；

4、控制工作頻率；適用于不同的工作條件。

三、超聲波試塊的作用

超聲波試塊的作用是校驗(yàn)儀器和探頭的性能，確定探傷起始靈敏度，校準(zhǔn)掃描線性。

超聲波探傷儀同步信號(hào)發(fā)生器的作用

同步電路產(chǎn)生同步脈沖信號(hào)，用以觸發(fā)儀器各部分電路同時(shí)協(xié)調(diào)工作，它主要控制同步發(fā)射和同步掃描二部分電路。

四、超聲波探傷中，超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)引起衰減的原因

1、超聲波的擴(kuò)散傳播距離增加，波束截面愈來愈大，單位面積上的能量減少。

2、材質(zhì)衰減一是介質(zhì)粘滯性引起的吸收；二是介質(zhì)界面雜亂反射引起的散射。

加強(qiáng)超波探傷合錄和報(bào)告工作

任何工件經(jīng)過超聲波探傷后，都必須出據(jù)檢驗(yàn)報(bào)告以作為該工作質(zhì)量好壞的憑證，一份正確的探傷報(bào)告，除建立可靠的探測(cè)方法和結(jié)果外，很大程度上取決于原始記錄和最后出據(jù)的探傷報(bào)告是非常重要的，如果我們檢查了工件不作記錄也不出報(bào)告，那么探傷檢查就毫無意義。

五、用超聲波對(duì)餅形大鍛件探傷，用底波調(diào)節(jié)探傷起始靈敏度對(duì)工作底面的要求

1、底面必須平行于探傷面；

2、底面必須平整并且有一定的光潔度。

六、CSK－ⅡA試塊的主要作用

1、校驗(yàn)靈敏度；2、校準(zhǔn)掃描線性。

七、影響照相靈敏度的主要因素

1、X光機(jī)的焦點(diǎn)大?。?、透照參數(shù)選擇的合理性，主要參數(shù)有管電壓、管電流、曝光時(shí)間和焦距大?。?、增感方式；4、選用膠片的合理性；5、暗室處理?xiàng)l件；6、散射的遮擋等。

八、超聲波探傷選擇探頭K值三條原則

1、聲束掃查到整個(gè)焊縫截面；

2、聲束盡量垂直于主要缺陷；

3、有足夠的靈敏度。

九、發(fā)射電路的主要作用

由同步電路輸入的同步脈沖信號(hào)，觸發(fā)發(fā)射電路工作，產(chǎn)生高頻電脈沖信號(hào)激勵(lì)晶片，產(chǎn)生高頻振動(dòng)，并在介質(zhì)內(nèi)產(chǎn)生超聲波。

十、超聲波探傷中，晶片表面和被探工件表面之間使用耦合劑的原因

晶片表面和被檢工件表面之間的空氣間隙，會(huì)使超聲波完全反射，造成探傷結(jié)果不準(zhǔn)確和無法探傷。

十一、JB1150－73標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的判別缺陷的三種情況

1、無底波只有缺陷的多次反射波。

2、無底波只有多個(gè)紊亂的缺陷波。

3、缺陷波和底波同時(shí)存在。

十二、JB1150－73標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的距離――波幅曲線的用途

距離――波幅曲線主要用于判定缺陷大小，給驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)提供依據(jù)它是由判廢線、定量線、測(cè)長線三條曲線組成；

判廢線――判定缺陷的最大允許當(dāng)量；

定量線――判定缺陷的大小、長度的控制線；測(cè)長線――探傷起始靈敏度控制線。

超聲場(chǎng)：充滿超聲場(chǎng)能量的空間叫超聲場(chǎng)。

十三、反映超聲場(chǎng)特征的主要參數(shù)

反映超聲場(chǎng)特征的重要物理量有聲強(qiáng)、聲壓聲阻抗、聲束擴(kuò)散角、近場(chǎng)和遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)。

十四、探傷儀最重要的性能指標(biāo)

分辨力、動(dòng)態(tài)范圍、水平線性、垂直線性、靈敏度、信噪比。

十五、超聲波探傷儀近顯示方式

1、A型顯示示波屏橫坐標(biāo)代表超聲波傳遞播時(shí)間（或距離）縱坐標(biāo)代表反射回波的高度；

2、B型顯示示波屏橫坐標(biāo)代表超聲波傳遞播時(shí)間（或距離），這類顯示得到的是探頭掃查深度方向的斷面圖；

3、C型顯示儀器示波屏代表被檢工件的投影面，這種顯示能繪出缺陷的水平投影位置，但不能給出缺陷的埋藏深度。

十六、超聲波焊縫探傷時(shí)為缺陷定位儀器時(shí)間掃描線的調(diào)整的方法：

有水平定位儀、垂直定位、聲程定位三種方法。

射線照相法已廣泛應(yīng)用于焊縫和鑄件的內(nèi)部質(zhì)量檢驗(yàn)，例如各種受壓容器、鍋爐、船體、輸油和輸氣管道等的焊縫，各種鑄鋼閥門、泵體、石油鉆探和化工、煉油設(shè)備中的受壓鑄件，精密鑄造的透平葉片，航空和汽車工業(yè)用的各種鋁鎂合金鑄件等。透視法的靈敏度較低，儀器測(cè)定法操作比較麻煩，兩者均應(yīng)用不多。