高分辨法

高分辨法(high resolution methods)一種差分格式，指用于計(jì)算含激波的流體力學(xué)問(wèn)題時(shí)，激波過(guò)渡區(qū)限制在數(shù)目很少(兩三個(gè)甚至一個(gè))網(wǎng)格內(nèi)的差分方法.哈坦(Harten , A. ) (1983)發(fā)展的二階TVD格式，范利爾(Van leer, B. ) (1979)發(fā)展的Muscl格式都是著名的高分辨方法。

高分辨法具有如下特點(diǎn):

1.激波過(guò)渡區(qū)陡峭，不產(chǎn)生非物理振蕩.

2。在解的光滑區(qū)域，至少有二階精度.

3.無(wú)需預(yù)先確定人工粘性，具有自適應(yīng)耗散性.

此外，雖然在一般光滑解區(qū)差分解能達(dá)到二階精度，但在光滑區(qū)的局部極值附近格式退化為一階格式，數(shù)值解中會(huì)削去局部極值的峰值，造成較大誤差;在接觸間斷計(jì)算中，接觸間斷的寬度也仍會(huì)隨時(shí)間的發(fā)展而增加。因此，這兩個(gè)方面是該類計(jì)算格式中需 要加以解決的問(wèn)題.2100433B

地震勘探區(qū)分兩個(gè)鄰近地質(zhì)體的能力。地震分辨率可分為垂向分辨率及橫向分辨率兩類。①垂向分辨率，指可區(qū)分的地質(zhì)體最小厚度。②橫向分辨率，又稱水平分辨率，指可區(qū)分的最窄地質(zhì)體的寬度。

不少學(xué)者從不同角度研究垂向分辨率，提出了維代斯 (widess) 準(zhǔn)則、瑞利 (Rayleigh) 準(zhǔn)則、雷克(Ricker)準(zhǔn)則(圖1)。一般認(rèn)為，垂向分辨率大約等于1/4～1/8優(yōu)勢(shì)波長(zhǎng)。

在水平疊加剖面上，任一時(shí)刻反射振幅是相應(yīng)反射點(diǎn)及其附近第一菲涅爾帶內(nèi)所有點(diǎn)繞射振幅的疊加。水平疊加剖面進(jìn)行地震偏移處理后，將地震波場(chǎng)向下延拓，直到t₀=0。相當(dāng)于將檢波器下降到反射界面，理論上使菲涅爾帶有效地縮小到一點(diǎn)。這樣，在疊加偏移剖面上，橫向分辨率△H只與空間采樣率(道間距)、噪聲及偏移過(guò)程有關(guān)。

影響地震分辨的主要因素是地震子波 (延續(xù)長(zhǎng)度僅1～2個(gè)周期的地震脈沖)的波長(zhǎng)、優(yōu)勢(shì)頻率與地震波速度。其次，也與地震子波頻帶寬度和地震子波類型有關(guān)。在無(wú)噪聲條件下，地震子波優(yōu)勢(shì)頻率越高、頻帶越寬，則分辨率越高。在振幅譜相同時(shí)，零相位子波的分辨率最高。隨著探測(cè)深度的增大，地震波速度增大，介質(zhì)吸收作用使高頻成分衰減，頻帶變窄，優(yōu)勢(shì)頻率降低，地震分辨率也不斷降低。噪聲也是影響地震分辨率的另一個(gè)重要因素，分辨率隨信噪比(某一時(shí)刻有效信號(hào)能量或振幅與噪聲等所有剩余能量之比值) 的提高而提高。①信噪比為1時(shí)，分辨率相當(dāng)于無(wú)噪聲時(shí)的50%。②信噪比為2時(shí)，分辨率提高到80%。③信噪比為4時(shí)，分辨率提高到94.1%。④當(dāng)信噪比小于1時(shí)，提高信噪比就成為改善分辨率的關(guān)鍵。⑤當(dāng)信噪比大于2時(shí)，則再提高信噪比對(duì)提高分辨率意義不大。在信噪比足夠高的條件下，提高地震分辨率的途徑是激發(fā)和記錄頻率高、頻帶寬的地震信息，并在處理中給予保護(hù)，適當(dāng)補(bǔ)償高頻成分，改善地震子波。

分辨率比一般地震勘探方法更高，能區(qū)分更小地質(zhì)體的反射波法地震勘探技術(shù)。它的工作頻率較高，頻帶較寬，雖能提高分辨率，但穿透深度減小。

高分辨率地震勘探始于20世紀(jì)70年代。1977年，在英國(guó)煤田試驗(yàn)并取得成功。中國(guó)于1982年在煤田地震勘探中開(kāi)始試驗(yàn)，1985年推廣應(yīng)用。同時(shí)，擴(kuò)展到石油地震勘探及工程地震勘探領(lǐng)域。

第1章 高分辨電子顯微方法的基礎(chǔ)

1.1 透射電子顯微鏡的原理

1.2 電子散射和傅里葉變換

1.3 高分辨電子顯微像的形成

1.3.1 薄膜試樣的高分辨電子顯微像

1.3.2 電子顯微鏡的分辨率

1.3.3 厚度樣的高分辨電子顯微像

1.4 高分辨電子顯微像的計(jì)算機(jī)模擬

1.4.1 程序的構(gòu)成和輸入的參數(shù)

1.4.2 在考慮晶格缺陷和吸收時(shí)的計(jì)算模擬

1.4.3 程序的檢查

參考文獻(xiàn)

第2章 高分辨電子顯微方法的實(shí)驗(yàn)

2.1 高分辨電子顯微像的種類

2.1.1 晶格條紋

2.1.2 一維結(jié)構(gòu)像

2.1.3 二維晶格像

2.1.4 二維結(jié)構(gòu)像

2.1.5 特殊的像

2.2 高分辨電子顯微鏡觀察

2.2.1 像觀察前的注意事項(xiàng)

2.2.2 像觀察前的注意事項(xiàng)

2.2.3 拍攝像的選擇

2.2.4 像解釋時(shí)的注意事項(xiàng)

2.2.5 高分辨電子顯微鏡觀察的練習(xí)

參考文獻(xiàn)

第3章 高分辨電子顯微方法的應(yīng)用

3.1 晶格缺陷、表面和界面的高分

3.1.1 位錯(cuò)

3.1.2 晶界和相界面

3.1.3 表面

3.1.4 其他結(jié)構(gòu)缺陷

3.2 各種物質(zhì)的高分辨電子顯微像

3.2.1 陶瓷

3.2.2 超導(dǎo)氧化物

3.2.3 有序合金

3.2.4 準(zhǔn)晶

參考文獻(xiàn)

第4章 高分辨電子顯微方法的周邊技術(shù)

4.1 圖像處理

4.1.1 高分辨電子顯微像的輸入和輸出

4.1.2 高分辨電子顯微像圖像處理的實(shí)踐

4.2 定量解析

4.2.1 新記錄系統(tǒng)的原理

4.2.2 新的圖像記錄系統(tǒng)的特性

4.2.3 用殘差指數(shù)解析高分辨電子顯微像

4.3 電子衍射方法

4.3.1 電子衍射方法的基礎(chǔ)

4.3.2 電子衍射方法的實(shí)際操作

4.3.3 各種結(jié)構(gòu)及其電子衍射花樣的特征

4.4 弱束方法

4.4.1 弱束方法的原理和特點(diǎn)

4.4.2 弱束像的觀察程序

4.5 電子顯微鏡性能的評(píng)價(jià)

4.5.1 電子顯微鏡基本參數(shù)的評(píng)價(jià)

4.5.2 電子顯微鏡分辨率的評(píng)價(jià)

4.6 試樣制備方法

4.6.1 粉碎方法

4.6.2 電解減薄方法

4.6.3 化學(xué)減薄方法

4.6.4 超薄切片方法

4.6.5 離子減薄片方法

4.6.6 聚焦離子束方法

4.6.7 真空蒸涂方法

參考文獻(xiàn)

附錄

附錄1 物理常數(shù)、換算系數(shù)和電子波長(zhǎng)等

附錄2 晶體幾何學(xué)關(guān)系

……

參考文獻(xiàn)

索引2100433B