中文名 | 超快差示掃描量熱儀 | 產(chǎn)????地 | 瑞士 |
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學(xué)科領(lǐng)域 | 物理學(xué)、材料科學(xué) | 啟用日期 | 2019年6月2日 |
所屬類(lèi)別 | 分析儀器 > 熱分析儀器 > 差熱分析儀 |
用于研究研究熱物理轉(zhuǎn)變(如結(jié)晶與結(jié)構(gòu)重組)和化學(xué)過(guò)程。 2100433B
升/降溫速率( K/min):6 K – 3,000,000 K/6 K – 2,400,000 K。
差示掃描量熱儀,測(cè)量的是與材料內(nèi)部熱轉(zhuǎn)變相關(guān)的溫度、熱流的關(guān)系,應(yīng)用范圍非常廣,特別是材料的研發(fā)、性能檢測(cè)與質(zhì)量控制。
差示掃描量熱儀應(yīng)用范圍: 高分子材料的固化反應(yīng)溫度和熱效應(yīng)、物質(zhì)相變溫度及其熱效應(yīng)測(cè)定、高聚物材料的結(jié)晶、熔融溫度及其熱效應(yīng)測(cè)定、高聚物材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度。主要特點(diǎn)1.全新的爐體結(jié)構(gòu),更好的解析度和...
1.全新的爐體結(jié)構(gòu),更好的解析度和分辨率以及更好的基線穩(wěn)定性2.數(shù)字式氣體質(zhì)量流量計(jì),精確控制吹掃氣體流量,數(shù)據(jù)直接記錄在數(shù)據(jù)庫(kù)中3.儀器可采用雙向控制(主機(jī)控制、軟件控制),界面友好,操作簡(jiǎn)便
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采用差示掃描量熱法(DSC)測(cè)定了鋅粉與富鋅底漆中的金屬鋅含量。分析了測(cè)試過(guò)程中可能出現(xiàn)測(cè)定誤差的原因,提出了提高分析精度的方法。
差示掃描量熱儀 (Differential Scanning Calorimeter),測(cè)量的是與材料內(nèi)部熱轉(zhuǎn)變相關(guān)的溫度、熱流的關(guān)系,應(yīng)用范圍非常廣,特別是材料的研發(fā)、性能檢測(cè)與質(zhì)量控制。材料的特性,如玻璃化轉(zhuǎn)變溫度、冷結(jié)晶、相轉(zhuǎn)變、熔融、結(jié)晶、產(chǎn)品穩(wěn)定性、固化/交聯(lián)、氧化誘導(dǎo)期等,都是差示掃描量熱儀的研究領(lǐng)域。
差示掃描量熱儀應(yīng)用范圍: 高分子材料的固化反應(yīng)溫度和熱效應(yīng)、物質(zhì)相變溫度及其熱效應(yīng)測(cè)定、高聚物材料的結(jié)晶、熔融溫度及其熱效應(yīng)測(cè)定、高聚物材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度。
本報(bào)訊
記者近日從中國(guó)科大獲悉,該校陸亞林團(tuán)隊(duì)成功制備出超快太赫茲調(diào)制器,率先實(shí)現(xiàn)皮秒級(jí)高調(diào)制深度的太赫茲超快開(kāi)關(guān);同時(shí)制備多功能太赫茲器件,在單一器件中實(shí)現(xiàn)電開(kāi)關(guān)、光存儲(chǔ)和超快調(diào)制多種功能。研究成果近期相繼發(fā)表在國(guó)際著名學(xué)術(shù)期刊《先進(jìn)光學(xué)材料》和《光學(xué)快訊》上。
太赫茲波在物理化學(xué)、材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境科學(xué)、安全檢查、衛(wèi)星通訊等領(lǐng)域有著廣闊的應(yīng)用前景。其中,影響太赫茲技術(shù)發(fā)展和應(yīng)用的關(guān)鍵因素之一,是難以獲得主動(dòng)太赫茲調(diào)控元器件。因此,發(fā)展主動(dòng)調(diào)控的太赫茲元器件有著重要的研究意義。
該團(tuán)隊(duì)設(shè)計(jì)并制作了基于硅介質(zhì)的超快調(diào)控超表面,通過(guò)光刻、刻蝕工藝將硅薄膜加工為能在太赫茲波段共振的圓盤(pán)陣列結(jié)構(gòu)的超表面。利用紅外飛秒脈沖的激發(fā),率先實(shí)現(xiàn)皮秒級(jí)高調(diào)制深度的太赫茲超快開(kāi)關(guān),并建立理論模型對(duì)其進(jìn)行了合理的解釋。
當(dāng)前,太赫茲主動(dòng)調(diào)控器件功能單一,難以適應(yīng)技術(shù)發(fā)展要求。該團(tuán)隊(duì)設(shè)計(jì)了一種太赫茲波段的多功能可調(diào)諧復(fù)合超表面,可以通過(guò)電流觸發(fā)實(shí)現(xiàn)室溫下對(duì)太赫茲波的記憶存儲(chǔ)功能,還能實(shí)現(xiàn)對(duì)太赫茲波的超快調(diào)控。 (記者 李想)
作者:李想
4225-PMU超快I-V模塊概述
4225-PMU超快I-V模塊 進(jìn)一步豐富了4200-SCS半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)的可選測(cè)試儀器系列。它在4200-SCS已有的強(qiáng)大測(cè)試環(huán)境中集成了超快的電壓波形發(fā)生和信號(hào)觀察功能,提高了系統(tǒng)對(duì)材料、器件和工藝進(jìn)行特征分析的能力。
同樣重要的是,利用4225-PMU可以像使用傳統(tǒng)高分辨率源測(cè)量單元(SMU)進(jìn)行直流測(cè)量那樣,輕松實(shí)現(xiàn)超快的I-V源和測(cè)量操作。