比較儀(comparator)
和百分表和千分表、杠桿齒輪式測(cè)微儀或扭簧測(cè)微儀等機(jī)械式指示表作為放大、指示部件。杠桿齒輪式測(cè)微儀的工作原理與百分表和千分表相似。但第1級(jí)放大機(jī)構(gòu)是杠桿,其分度值通常為1微米。扭簧測(cè)微儀是一種具有無機(jī)械摩擦放大機(jī)構(gòu)的指示表(圖 [扭簧測(cè)微儀工作原理].它的主要放大元件是一根從中間起一端向右扭曲,另一端向左扭曲的金屬薄片(寬度為0.1毫米左右,厚度為0.005毫米左右),稱為扭簧絲。在它的中間粘有一根直徑約為0.06毫米的空心玻璃絲做的指針。當(dāng)測(cè)桿上下移動(dòng)時(shí),可動(dòng)支架把上下位移轉(zhuǎn)換為左右位移,使扭簧絲縮短或伸長(zhǎng),并帶動(dòng)指針轉(zhuǎn)一個(gè)角度,從表盤上即可讀出測(cè)桿的位移量。扭簧測(cè)微儀的靈敏度很高,常見的分度值有1微米、0.5微米、0.2微米和0.1微米幾種,最高可達(dá)0.02微米。示值范圍一般為±50個(gè)分度值。機(jī)械式比較儀常用在車間和計(jì)量室測(cè)量工件外徑和厚度等。
和百分表和千分表、杠桿齒輪式測(cè)微儀或扭簧測(cè)微儀等機(jī)械式指示表作為放大、指示部件。杠桿齒輪式測(cè)微儀的工作原理與百分表和千分表相似。但第1級(jí)放大機(jī)構(gòu)是杠桿,其分度值通常為1微米。扭簧測(cè)微儀是一種具有無機(jī)械摩擦放大機(jī)構(gòu)的指示表(圖 [扭簧測(cè)微儀工作原理].它的主要放大元件是一根從中間起一端向右扭曲,另一端向左扭曲的金屬薄片(寬度為0.1毫米左右,厚度為0.005毫米左右),稱為扭簧絲。在它的中間粘有一根直徑約為0.06毫米的空心玻璃絲做的指針。當(dāng)測(cè)桿上下移動(dòng)時(shí),可動(dòng)支架把上下位移轉(zhuǎn)換為左右位移,使扭簧絲縮短或伸長(zhǎng),并帶動(dòng)指針轉(zhuǎn)一個(gè)角度,從表盤上即可讀出測(cè)桿的位移量。扭簧測(cè)微儀的靈敏度很高,常見的分度值有1微米、0.5微米、0.2微米和0.1微米幾種,最高可達(dá)0.02微米。示值范圍一般為±50個(gè)分度值。機(jī)械式比較儀常用在車間和計(jì)量室測(cè)量工件外徑和厚度等。
你好,定義異形柱。
我畫圖自然地面相對(duì)標(biāo)高-1.05m,車庫(kù)地標(biāo)高-1.53,頂0.66,車庫(kù)與室內(nèi)地面(±0.000)連成一體,請(qǐng)問我該如何定義樓層,如何畫 樓層正常定義即可,車庫(kù)可以設(shè)置為-1層,底標(biāo)高為-1。53,...
用自定義線定義吧
利用光學(xué)測(cè)微儀作為放大指示部件。常見的有立式、臥式和影屏式 3種。
①立式光學(xué)比較儀:又稱立式光學(xué)計(jì),圖3[光學(xué)測(cè)微儀的光學(xué)系統(tǒng)]為光學(xué)測(cè)微儀的光學(xué)系統(tǒng)。它是按自準(zhǔn)直原理(見自準(zhǔn)直儀)設(shè)計(jì)的。分劃板位于物鏡焦平面上,平面反射鏡按杠桿原理設(shè)置。當(dāng)測(cè)桿上下移動(dòng)時(shí),平面反射鏡繞支點(diǎn)轉(zhuǎn)動(dòng)一個(gè)很小角度,由平面反射鏡反射回去的光線,經(jīng)直角棱鏡后成象在分劃板上的刻度尺象發(fā)生偏移。偏移量的大小與測(cè)桿移動(dòng)距離成比例。光學(xué)測(cè)微儀的分度值為 1微米,示值范圍為0.1毫米。立式光學(xué)計(jì)適宜在計(jì)量室使用,測(cè)量范圍為0~180毫米,常用于檢定量塊和光滑量規(guī)以及測(cè)量工件的外徑、厚度。
②臥式光學(xué)比較儀:又稱臥式光學(xué)計(jì),其工作原理與立式光學(xué)計(jì)相同,測(cè)量范圍為0~500毫米,適用于在計(jì)量室測(cè)量較大的或在立式光學(xué)計(jì)上不易定位的工件,如圓盤等,也常利用測(cè)孔附件測(cè)量孔徑。
③影屏式光學(xué)比較儀:又稱投影光學(xué)計(jì),其光學(xué)系統(tǒng)與立式光學(xué)計(jì)相似,但刻度尺影像經(jīng)投影放大透鏡放大后成象于影屏上。分度值有1微米、0.2微米等。分度值為 0.2微米的光學(xué)系統(tǒng)采用多次反射以增大光學(xué)杠桿的放大比。此外,還有用光波干涉法測(cè)量的接觸式干涉比較儀,其分度值為0.05微米、0.1微米和0.2微米。
利用光學(xué)測(cè)微儀作為放大指示部件。常見的有立式、臥式和影屏式 3種。
①立式光學(xué)比較儀:又稱立式光學(xué)計(jì),圖3[光學(xué)測(cè)微儀的光學(xué)系統(tǒng)]為光學(xué)測(cè)微儀的光學(xué)系統(tǒng)。它是按自準(zhǔn)直原理(見自準(zhǔn)直儀)設(shè)計(jì)的。分劃板位于物鏡焦平面上,平面反射鏡按杠桿原理設(shè)置。當(dāng)測(cè)桿上下移動(dòng)時(shí),平面反射鏡繞支點(diǎn)轉(zhuǎn)動(dòng)一個(gè)很小角度,由平面反射鏡反射回去的光線,經(jīng)直角棱鏡后成象在分劃板上的刻度尺象發(fā)生偏移。偏移量的大小與測(cè)桿移動(dòng)距離成比例。光學(xué)測(cè)微儀的分度值為 1微米,示值范圍為0.1毫米。立式光學(xué)計(jì)適宜在計(jì)量室使用,測(cè)量范圍為0~180毫米,常用于檢定量塊和光滑量規(guī)以及測(cè)量工件的外徑、厚度。
②臥式光學(xué)比較儀:又稱臥式光學(xué)計(jì),其工作原理與立式光學(xué)計(jì)相同,測(cè)量范圍為0~500毫米,適用于在計(jì)量室測(cè)量較大的或在立式光學(xué)計(jì)上不易定位的工件,如圓盤等,也常利用測(cè)孔附件測(cè)量孔徑。
③影屏式光學(xué)比較儀:又稱投影光學(xué)計(jì),其光學(xué)系統(tǒng)與立式光學(xué)計(jì)相似,但刻度尺影像經(jīng)投影放大透鏡放大后成象于影屏上。分度值有1微米、0.2微米等。分度值為 0.2微米的光學(xué)系統(tǒng)采用多次反射以增大光學(xué)杠桿的放大比。此外,還有用光波干涉法測(cè)量的接觸式干涉比較儀,其分度值為0.05微米、0.1微米和0.2微米。
常用電感式或電容式測(cè)微儀(見長(zhǎng)度傳感器)作為放大、指示部件。圖4 [數(shù)字顯示電感式比較儀]是數(shù)字顯示的電感式比較儀,其分辨率有1微米、0.1微米和0.01微米等幾好種。
常用電感式或電容式測(cè)微儀(見長(zhǎng)度傳感器)作為放大、指示部件。圖4 [數(shù)字顯示電感式比較儀]是數(shù)字顯示的電感式比較儀,其分辨率有1微米、0.1微米和0.01微米等幾好種。2100433B
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評(píng)分: 4.8
不確定度對(duì)檢測(cè)工作的質(zhì)量控制有很大的幫助,尤其是檢測(cè)值處于標(biāo)準(zhǔn)的臨界值時(shí),計(jì)算不確定度一方面能檢查檢測(cè)工作是否存在差錯(cuò),另一方面也能減輕檢測(cè)人員和檢測(cè)機(jī)構(gòu)的風(fēng)險(xiǎn),更利于檢測(cè)結(jié)論的判定。
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評(píng)分: 4.8
本文主要對(duì)質(zhì)量比較儀重復(fù)性、偏載誤差、局部示值誤差的測(cè)量不確定度進(jìn)行了詳細(xì)的評(píng)定。其中包括了不確定度評(píng)定的環(huán)境、測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)量方法,并對(duì)不確定度評(píng)定過程中的方法和步驟進(jìn)行詳細(xì)描述。
機(jī)械式比較儀和百分表和千分表、杠桿齒輪式測(cè)微儀或扭簧測(cè)微儀等機(jī)械式指示表作為放大、指示部件。杠桿齒輪式測(cè)微儀的工作原理與百分表和千分表相似。
機(jī)械式比較儀第1級(jí)放大機(jī)構(gòu)是杠桿,其分度值通常為1微米。扭簧測(cè)微儀是一種具有無機(jī)械摩擦放大機(jī)構(gòu)的指示表(圖 [扭簧測(cè)微儀工作原理].它的主要放大元件是一根從中間起一端向右扭曲,另一端向左扭曲的金屬薄片(寬度為0.1毫米左右,厚度為0.005毫米左右),稱為扭簧絲。在它的中間粘有一根直徑約為0.06毫米的空心玻璃絲做的指針。當(dāng)測(cè)桿上下移動(dòng)時(shí),可動(dòng)支架把上下位移轉(zhuǎn)換為左右位移,使扭簧絲縮短或伸長(zhǎng),并帶動(dòng)指針轉(zhuǎn)一個(gè)角度,從表盤上即可讀出測(cè)桿的位移量。扭簧測(cè)微儀的靈敏度很高,常見的分度值有1微米、0.5微米、0.2微米和0.1微米幾種,最高可達(dá)0.02微米。示值范圍一般為±50個(gè)分度值。機(jī)械式比較儀常用在車間和計(jì)量室測(cè)量工件外徑和厚度等。
光學(xué)比較儀 利用光學(xué)測(cè)微儀作為放大指示部件。常見的有立式、臥式和影屏式 3種。①立式光學(xué)比較儀:又稱立式光學(xué)計(jì),圖3[光學(xué)測(cè)微儀的光學(xué)系統(tǒng)]為光學(xué)測(cè)微儀的光學(xué)系統(tǒng)。它是按自準(zhǔn)直原理(見自準(zhǔn)直儀)設(shè)計(jì)的。分劃板位于物鏡焦平面上,平面反射鏡按杠桿原理設(shè)置。當(dāng)測(cè)桿上下移動(dòng)時(shí),平面反射鏡繞支點(diǎn)轉(zhuǎn)動(dòng)一個(gè)很小角度,由平面反射鏡反射回去的光線,經(jīng)直角棱鏡后成象在分劃板上的刻度尺象發(fā)生偏移。偏移量的大小與測(cè)桿移動(dòng)距離成比例。光學(xué)測(cè)微儀的分度值為 1微米,示值范圍為0.1毫米。立式光學(xué)計(jì)適宜在計(jì)量室使用,測(cè)量范圍為0~180毫米,常用于檢定量塊和光滑量規(guī)以及測(cè)量工件的外徑、厚度。②臥式光學(xué)比較儀:又稱臥式光學(xué)計(jì),其工作原理與立式光學(xué)計(jì)相同,測(cè)量范圍為0~500毫米,適用于在計(jì)量室測(cè)量較大的或在立式光學(xué)計(jì)上不易定位的工件,如圓盤等,也常利用測(cè)孔附件測(cè)量孔徑。③影屏式光學(xué)比較儀:又稱投影光學(xué)計(jì),其光學(xué)系統(tǒng)與立式光學(xué)計(jì)相似,但刻度尺影像經(jīng)投影放大透鏡放大后成象于影屏上。分度值有1微米、0.2微米等。分度值為 0.2微米的光學(xué)系統(tǒng)采用多次反射以增大光學(xué)杠桿的放大比。此外,還有用光波干涉法測(cè)量的接觸式干涉比較儀,其分度值為0.05微米、0.1微米和0.2微米。
利用帶鐵心強(qiáng)耦合繞組在鐵心中磁通為零的情況下,提供與繞組匝數(shù)成反比關(guān)系的高準(zhǔn)確電流比值的電測(cè)量?jī)x器。電流比較儀的基本結(jié)構(gòu)見圖,鐵心上兩繞組W1、W2中分別通以交流電流夒1、夒2,如鐵心中磁通為零,且繞組為完全磁耦合狀態(tài)時(shí),則總磁通為零,即有
W1夒1+W2夒2=0
或
-夒2/夒1=W1/W2
這表明在數(shù)值上,電流夒1、夒2與匝數(shù)W1、W2成反比。在直流情況下也是如此。電流比較儀一般采用鐲環(huán)鐵心。因其工作在零磁通狀態(tài)下,所以要選用起始磁導(dǎo)率比較高的鐵磁材料。
交流電流比較儀實(shí)際上是感應(yīng)分壓器的互易形式。使用時(shí),為檢測(cè)鐵心中是否磁通為零,一般利用鐵心上的第三繞組WD,稱做檢測(cè)繞組。當(dāng)鐵心中沒有磁通時(shí),檢測(cè)繞組WD沒有信號(hào)輸出。對(duì)于直流電流比較儀,檢測(cè)鐵心中是否有磁通存在要困難一些,一般采用偶次頻率磁調(diào)制器線路。
電流比較儀多用于直流電橋、交流電橋及電位差計(jì)中作為電流比例臂。若在交流電流比較儀的鐵心上增繞一個(gè)繞組W3,則當(dāng)檢測(cè)繞組WD無信號(hào)輸出,即鐵心中無磁通時(shí),有
W1夒1+W2夒2+W3夒3=0
如夒3是被測(cè)電流,而夒1與夒2為相位上差90°的標(biāo)準(zhǔn)電流,據(jù)此公式可將夒3分解為沿夒1、夒2兩互相垂直的分量, 即形成直角座標(biāo)型電位差計(jì)(見交流電位差計(jì))。這一結(jié)構(gòu)同樣可用于交流電橋中。常用的交流電流比較儀的誤差約在10-5~10-8之間, 工作頻率一般處于40赫到10千赫范圍內(nèi)。若進(jìn)一步提高其準(zhǔn)確度,可采用組合鐵心結(jié)構(gòu)。
機(jī)械式比較儀 和百分表和千分表、杠桿齒輪式測(cè)微儀或扭簧測(cè)微儀等機(jī)械式指示表作為放大、指示部件。杠桿齒輪式測(cè)微儀的工作原理與百分表和千分表相似。但第1級(jí)放大機(jī)構(gòu)是杠桿,其分度值通常為1微米。扭簧測(cè)微儀是一種具有無機(jī)械摩擦放大機(jī)構(gòu)的指示表(圖 [扭簧測(cè)微儀工作原理].它的主要放大元件是一根從中間起一端向右扭曲,另一端向左扭曲的金屬薄片(寬度為0.1毫米左右,厚度為0.005毫米左右),稱為扭簧絲。在它的中間粘有一根直徑約為0.06毫米的空心玻璃絲做的指針。當(dāng)測(cè)桿上下移動(dòng)時(shí),可動(dòng)支架把上下位移轉(zhuǎn)換為左右位移,使扭簧絲縮短或伸長(zhǎng),并帶動(dòng)指針轉(zhuǎn)一個(gè)角度,從表盤上即可讀出測(cè)桿的位移量。扭簧測(cè)微儀的靈敏度很高,常見的分度值有1微米、0.5微米、0.2微米和0.1微米幾種,最高可達(dá)0.02微米。示值范圍一般為±50個(gè)分度值。機(jī)械式比較儀常用在車間和計(jì)量室測(cè)量工件外徑和厚度等。
光學(xué)比較儀 利用光學(xué)測(cè)微儀作為放大指示部件。常見的有立式、臥式和影屏式 3種。①立式光學(xué)比較儀:又稱立式光學(xué)計(jì),圖3[光學(xué)測(cè)微儀的光學(xué)系統(tǒng)]為光學(xué)測(cè)微儀的光學(xué)系統(tǒng)。它是按自準(zhǔn)直原理(見自準(zhǔn)直儀)設(shè)計(jì)的。分劃板位于物鏡焦平面上,平面反射鏡按杠桿原理設(shè)置。當(dāng)測(cè)桿上下移動(dòng)時(shí),平面反射鏡繞支點(diǎn)轉(zhuǎn)動(dòng)一個(gè)很小角度,由平面反射鏡反射回去的光線,經(jīng)直角棱鏡后成象在分劃板上的刻度尺象發(fā)生偏移。偏移量的大小與測(cè)桿移動(dòng)距離成比例。光學(xué)測(cè)微儀的分度值為 1微米,示值范圍為0.1毫米。立式光學(xué)計(jì)適宜在計(jì)量室使用,測(cè)量范圍為0~180毫米,常用于檢定量塊和光滑量規(guī)以及測(cè)量工件的外徑、厚度。②臥式光學(xué)比較儀:又稱臥式光學(xué)計(jì),其工作原理與立式光學(xué)計(jì)相同,測(cè)量范圍為0~500毫米,適用于在計(jì)量室測(cè)量較大的或在立式光學(xué)計(jì)上不易定位的工件,如圓盤等,也常利用測(cè)孔附件測(cè)量孔徑。③影屏式光學(xué)比較儀:又稱投影光學(xué)計(jì),其光學(xué)系統(tǒng)與立式光學(xué)計(jì)相似,但刻度尺影像經(jīng)投影放大透鏡放大后成象于影屏上。分度值有1微米、0.2微米等。分度值為 0.2微米的光學(xué)系統(tǒng)采用多次反射以增大光學(xué)杠桿的放大比。此外,還有用光波干涉法測(cè)量的接觸式干涉比較儀,其分度值為0.05微米、0.1微米和0.2微米。