解析糾正簡介

將像片的中心投影變換為成圖比例尺的正射投影，實現(xiàn)這一變換的關(guān)鍵是建立或確定像點與相應(yīng)圖點的對應(yīng)關(guān)系，這種關(guān)系可按投影變換用中心投影方法建立，也可以用數(shù)學解析方法用函數(shù)式確定。

豎直攝影的航攝像片是地面的中心投影。要用航攝像片的影像來確定地物的平面位置，需要將像片由中心投影轉(zhuǎn)換為地面按一定比例尺的正射投影，并用正射影像的像片拼接鑲嵌成像片平面圖。

為了消除像片與像平面圖的差異，需要將豎直攝影的像片消除像片傾斜引起的像點位移和限制或消除地形起伏引起的投影差，并將影像歸化為成圖比例尺。

按照數(shù)學解析糾正原理進行微分糾正時，是在模擬或解析測圖儀建立的立體模型上，或現(xiàn)有的地圖上，或從存貯于數(shù)據(jù)庫的數(shù)字高程模型中，采集地面高程坐標和獲取像片內(nèi)外方位元素，建立像點與圖點之間的中心投影與正射投影的坐標的對應(yīng)關(guān)系?；蛑苯釉诹Ⅲw模型上斷面掃描，將圖點對應(yīng)的像點坐標順序記錄在磁帶上。依據(jù)以上方式建立的像點與圖點的坐標對應(yīng)，在像片上按一定位置、方向、大小截取像元素(即圖底縫隙內(nèi)各圖點在像片的對應(yīng)構(gòu)像)曬印到圖底相應(yīng)的縫隙中。

在全數(shù)字化攝影測量中，經(jīng)過影像數(shù)字化能獲得每個像素，像素面積可小到25m×25m的灰度值。解析糾正是按共線方程用計算機求出像片每個像素對應(yīng)的圖底坐標，或圖底正射投影點相對應(yīng)的像點坐標，再經(jīng)過灰度值的攝影測量內(nèi)插(即灰度的重采樣)求得圖底各點的灰度值，曬印出來就是正射像片。原則上能實現(xiàn)像片的逐點糾正。

微分糾正又稱正射投影技術(shù)，它是以圖底的縫隙即線元素（或棉元素）為糾正單元，適用于起伏地區(qū)與山地制作正射影像圖。由于以縫隙為糾正單元，故又稱縫隙糾正。微分糾正可分為直接式(中心投影式)微分糾正與間接式(函數(shù)式)微分糾正。使用的儀器為正射投影儀。

直接式微分糾正是按投影變換原理以縫隙為糾正單元的像片糾正方法。2100433B

糾正措施 corrective action

為消除已發(fā)現(xiàn)的不合格或其他不期望情況的原因所采取的措施。

注1：一個不合格可以有若干個原因；

注2：采取糾正措施是為了防止再發(fā)生，而采取預(yù)防措施是為了防止發(fā)生；注3：糾正和糾正措施是有區(qū)別的。

糾正措施

為消除已發(fā)現(xiàn)的不合格或其他不期望情況的根源所采取的措施。

注1: 一個不合格可以有若干個原因。

注2 :采取糾正措施是為了防止不合格再發(fā)生，而采取預(yù)防措施是為了防止不合格

發(fā)生。

注3 :糾正和糾正措施是有區(qū)別的。

預(yù)防措施

為消除潛在不合格或其他潛在不期望情況的原因所采取的措施。

注1: 一個潛在不合格可以有若干個原因。2100433B

在施工測量中，設(shè)計單位給出的圖紙，其底圖一般為航攝圖，依據(jù)設(shè)計單位圖紙而計算出來的邊樁與實地的樁位高程有存在一定差異。利用其高差與坡度，計算其正確的高程。

1.挖方邊樁坐標糾正

對于挖填樁位精度，直接影響整個工程的數(shù)差，如果實測高程高于設(shè)計高程，說明其寬度得往外移。

2.填方邊樁坐標糾正

關(guān)于填方，則與挖方相反，假設(shè)填方邊樁的設(shè)計高程為HS，而放樣的實測高程為HD，當設(shè)計高程HS高于實測高程HD時，邊樁樁位則應(yīng)當往外移。當設(shè)計高程HS低于實測高程HD 時，邊樁樁位則應(yīng)當往內(nèi)移 。