中文名 | 表面安裝集成電路引線三維尺寸在線測試方法的研究 | 項目類別 | 青年科學基金項目 |
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項目負責人 | 孫長庫 | 依托單位 | 天津大學 |
研究線結(jié)構(gòu)光三維測試技術(shù)、光學圖像的拆分與合成技術(shù)、分立點三維圖像實時代集和處理技術(shù)及動態(tài)誤差實時修正方法,實現(xiàn)SMIC引線三維尺寸在線測試。該方法新、分辨力高,柔性大,測試速度快,實用性強。將有效解決SMIC引線三維尺寸在線測試難題,并可在焊接電路板焊點等分立點在線三維測試方面應用。有很強的理論意義和實用價值。 2100433B
批準號 |
69906001 |
項目名稱 |
表面安裝集成電路引線三維尺寸在線測試方法的研究 |
項目類別 |
青年科學基金項目 |
申請代碼 |
F0402 |
項目負責人 |
孫長庫 |
負責人職稱 |
教授 |
依托單位 |
天津大學 |
研究期限 |
2000-01-01 至 2002-12-31 |
支持經(jīng)費 |
11.4(萬元) |
1、組合安裝方式: 繼電器與接觸器插裝,最為常見的安裝方式。基本原則是國產(chǎn)產(chǎn)品之間互相插裝,進口產(chǎn)品之間互相插裝(除205A以上接觸器); 2、單獨安裝方式:單一繼電器通過螺釘...
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評分: 4.5
隨著大規(guī)模集成電路的不斷發(fā)展,電遷移引起的集成電路可靠性問題日益凸現(xiàn)。本文介紹了電遷移的基本理論,綜述了集成電路互連引線電遷移的研究進展。研究表明,互連引線的尺寸、形狀和微觀組織結(jié)構(gòu)對電遷移有重要影響;溫度、電流密度、應力梯度、合金元素及工作電流模式等也對電遷移壽命有重要影響。同時指出了電遷移研究亟待解決的問題。
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頁數(shù): 未知
評分: 4.8
本文基于對幾種大尺寸產(chǎn)品的三維坐標測量方法的研究,以及對結(jié)果的分析與總結(jié),結(jié)合大地測量原理和相關(guān)測量經(jīng)驗提出了一種船體分段搭載的可行性方法。
片上系統(tǒng)技術(shù)是當前大規(guī)模集成電路的發(fā)展趨勢,是集成電路產(chǎn)業(yè)的重要研究方向之一。片上系統(tǒng)設(shè)計涉及系統(tǒng)知識、模型算法、芯片結(jié)構(gòu)、各層次電路直至器件的設(shè)計,要求有應用系統(tǒng)知識,軟硬件設(shè)計能力,以及快速的整合驗證能力。本方向面向通信和廣播電視領(lǐng)域,研究多媒體信號處理和傳輸中的算法、算法的電路設(shè)計實現(xiàn)以及系統(tǒng)集成。研究內(nèi)容包括廣播電視技術(shù)領(lǐng)域中信源編解碼、信道編解碼中關(guān)鍵模塊的硬件設(shè)計和實現(xiàn)、片上系統(tǒng)的設(shè)計和實現(xiàn)、面向多媒體信號處理和傳輸?shù)钠舷到y(tǒng)架構(gòu)的研究、以及驗證方法的研究。
本專業(yè)方向具有較強的復合性,要求具有較寬泛的知識基礎(chǔ),因此本方向研究生培養(yǎng)內(nèi)容主要有:系統(tǒng)學習集成電路相關(guān)基礎(chǔ)理論,學習集成電路設(shè)計基本技能,學習信號處理和通信相關(guān)領(lǐng)域基礎(chǔ)理論和系統(tǒng)知識,學習片上系統(tǒng)設(shè)計所需的相關(guān)知識和技能。本專業(yè)方向要求學生具有較扎實的相關(guān)理論基礎(chǔ),同時具有較強的實踐能力。
DSP算法與FPGA設(shè)計方向主要研究內(nèi)容為基于可編程數(shù)字電路平臺FPGA芯片,實現(xiàn)廣播電視以及數(shù)字無線多媒體通信中寬帶高速信號數(shù)據(jù)流的處理;
本方向的研究特色是設(shè)計專用的數(shù)字信號處理電路以實現(xiàn)高密度的并行計算和數(shù)據(jù)處理。本方向的研究成果主要應用領(lǐng)域為高速廣播電視臺站設(shè)備、數(shù)字無線多媒體基站設(shè)備,以及對電路功耗有苛刻要求的便攜設(shè)備中的數(shù)字信號處理系統(tǒng)的實現(xiàn)。
通過本專業(yè)的學習,學生應當掌握基于FPGA電路平臺的計算機輔助設(shè)計(EDA)方法學,包括寄存器傳輸級和邏輯門級的電路設(shè)計與動態(tài)和靜態(tài)的驗證方法,掌握常用數(shù)字信號處理算法的基本電路模塊設(shè)計方法,掌握無線通信系統(tǒng)數(shù)字中頻算法設(shè)計,面向硬件結(jié)構(gòu)的并發(fā)性算法設(shè)計,電路流水線設(shè)計方法學,并發(fā)性算法和電路仿真的數(shù)據(jù)一致性驗證方法學等。2100433B
隨著集成電路規(guī)模的不斷擴大,三維集成電路已成為今后集成電路的發(fā)展趨勢。它與二維集成電路相比具有互連線短、集成度高、芯片面積小和功耗低等特點。因此,三維集成電路成為當今學術(shù)界研究的熱點課題。布圖技術(shù)是集成電路設(shè)計中最重要的一步,而布圖規(guī)劃/布局是關(guān)鍵,其結(jié)果的好壞直接影響芯片的制造和封裝。本課題以現(xiàn)有二維集成電路布圖規(guī)劃/布局算法為基礎(chǔ),研究適合于三維集成電路的布圖規(guī)劃/布局算法,包括三維布圖規(guī)劃/ 2100433B
本項目針對銅TSV和碳納米管TSV技術(shù),考慮不同TSV材料、長度、直徑、介電厚度和間距等因素,建立三維集成電路TSV通孔的電阻、電感、電容的解析模型及熱模型;考慮層間通孔和互連焦耳熱,獲得三維集成電路的熱解析模型和頂層互連線的熱解析模型,考慮三維集成電路的面積、通信帶寬和溫度的約束,應用多級路由技術(shù)實現(xiàn)三維集成電路熱通孔最優(yōu)化分配技術(shù),為三維集成技術(shù)應用于未來集成電路設(shè)計提供必要的理論基礎(chǔ)。