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更新時(shí)間：2025.05.10
基于MATLAB紅外雙波段成像探測(cè)器性能仿真

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紅外雙波段成像探測(cè)器能接收目標(biāo)和干擾源在兩個(gè)波段上的輻射能量。從普朗克黑體輻射定律出發(fā),根據(jù)MATLAB軟件模擬出的目標(biāo)和干擾源的輻射特性來選擇SW/MW兩個(gè)紅外波段。首先利用仿真程序計(jì)算InSb面陣探測(cè)器對(duì)于點(diǎn)黑體和面黑體的響應(yīng)結(jié)果,由計(jì)算結(jié)果和測(cè)試結(jié)果較好的一致性,說明設(shè)計(jì)的MATLAB仿真程序具有實(shí)用性。再從實(shí)際研制的HgCdTe 128×128疊層式雙波段器件結(jié)構(gòu)考慮,通過一定的變換,利用仿真程序?qū)gCdTe SW/MW雙波段成像探測(cè)器進(jìn)行參數(shù)性能仿真,達(dá)到利用成像及雙色比來區(qū)分目標(biāo)和干擾的目的。

新型的AlGaN/PZT材料紫外/紅外雙波段探測(cè)器

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提出了一種可以同時(shí)同位置探測(cè)紫外和紅外信號(hào)的新型探測(cè)結(jié)構(gòu),分析了該結(jié)構(gòu)的合理性,并對(duì)器件工藝進(jìn)行了設(shè)計(jì)、分析和驗(yàn)證,制備出了AlGaN/PZT原型器件。該結(jié)構(gòu)以AlGaN多層材料和PZT復(fù)合薄膜為基礎(chǔ),利用AlGaN寬禁帶半導(dǎo)體的本征吸收和鐵電薄膜的熱電轉(zhuǎn)化功能,實(shí)現(xiàn)對(duì)紫外和紅外信號(hào)的電學(xué)響應(yīng)。對(duì)該結(jié)構(gòu)中各膜層的透射和吸收進(jìn)行了測(cè)試和分析,在小于6μm的光譜測(cè)試范圍內(nèi),寶石襯底的透過率約為80%,而AlGaN多層外延結(jié)構(gòu)和多孔SiO2隔離層都對(duì)紅外光吸收很少。結(jié)果證明:該結(jié)構(gòu)可以實(shí)現(xiàn)不同吸收層對(duì)入射光束不同波段的吸收。以AlGaN器件工藝和溶膠-凝膠法制備PZT膜層為基礎(chǔ),研究了器件工藝,并最終研制出了首個(gè)AlGaN/PZT探測(cè)器件。

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