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更新時(shí)間：2025.04.20
工業(yè)X射線探傷儀系統(tǒng)設(shè)計(jì)_輻射劑量及防護(hù)課程設(shè)計(jì)

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工業(yè) X射線探傷儀系統(tǒng)設(shè)計(jì) 1. X 射線探傷原理 X射線是一種波長很短的電磁波， 是一種光子， 波長為 10 6 -10 8 cm，X射線有 下列特性： （1）穿透性 X射線能穿透一般可見光所不能透過的物質(zhì)。其穿透能力的強(qiáng)弱，與 X射線的 波長以及被穿透物質(zhì)的密度和厚度有關(guān)。 X射線波長愈短，穿透力就愈大；密度愈 低，厚度愈薄，則 X射線愈易穿透。在實(shí)際工作中，通過球管的電壓伏值（ kV）的 大小來確定 X射線的穿透性（即 X射線的質(zhì)），而以單位時(shí)間內(nèi)通過 X射線的電流 （mA）與時(shí)間的乘積代表 X射線的量。 （2）電離作用 X射線或其它射線（例如 γ射線）通過物質(zhì)被吸收時(shí)，可使組成物質(zhì)的分子分 解成為正負(fù)離子，稱為電離作用，離子的多少和物質(zhì)吸收的 X射線量成正比。通過 空氣或其它物質(zhì)產(chǎn)生電離作用，利用儀表測量電離的程度就可以計(jì)算 X射線的量。 檢測設(shè)備正是由此來實(shí)現(xiàn)對(duì)零件探傷檢測的。

石英晶片X射線自動(dòng)分選儀的理論設(shè)計(jì)

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介紹了石英晶片X射線自動(dòng)分選儀的理論設(shè)計(jì),詳細(xì)討論了測量原理、測量誤差和探測器前端擋板設(shè)計(jì)等問題。結(jié)果表明,利用φ旋轉(zhuǎn)法同時(shí)測量(0111)和(0223)晶面的衍射線,可以同時(shí)測出XX′傾角和AT切角,實(shí)現(xiàn)了對(duì)石英晶片的自動(dòng)準(zhǔn)確分選。

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