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更新時(shí)間:2025.04.05
基于基準(zhǔn)傳遞原理的橋梁撓度測(cè)試方法及試驗(yàn)研究

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基于基準(zhǔn)傳遞原理的橋梁撓度測(cè)試方法及試驗(yàn)研究——以基準(zhǔn)傳遞原理為基礎(chǔ)并結(jié)合橋梁撓度變形特點(diǎn),提出了一種通過(guò)在梁體上布設(shè)連續(xù)連桿的撓度測(cè)試的新方法。為驗(yàn)證該方法,進(jìn)行了一個(gè)空心板梁在溫度及動(dòng)載作用下的撓度測(cè)試試驗(yàn),試驗(yàn)過(guò)程中測(cè)試了連桿中部與梁體...

測(cè)試基準(zhǔn)電路ITC’02剖析及其應(yīng)用現(xiàn)狀

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文章首先對(duì)測(cè)試基準(zhǔn)電路ITC’02的產(chǎn)生背景進(jìn)行了介紹,然后就文件書(shū)寫格式、系統(tǒng)芯片命名規(guī)則、應(yīng)用范圍以及測(cè)試問(wèn)題的分類等進(jìn)行了比較詳細(xì)的介紹和剖析,分析了該基準(zhǔn)的統(tǒng)計(jì)特性,并對(duì)其應(yīng)用現(xiàn)狀做了比較詳細(xì)的考察;為集成電路可測(cè)性設(shè)計(jì)相關(guān)研究與開(kāi)發(fā)人員提供了一個(gè)新的測(cè)試基準(zhǔn)參考。

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基準(zhǔn)套件測(cè)試

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