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目前還沒(méi)有一種礦物及固體絕緣材料小塊樣品電阻率測(cè)量的有效方法.為此,根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1410-2006和數(shù)字高阻計(jì)特點(diǎn),研制了一種與通用高阻計(jì)配套使用的小型電極實(shí)驗(yàn)裝置,將試樣直徑由標(biāo)準(zhǔn)電極的100mm減小到18mm,試樣面積減少了30.86倍;該裝置采用2個(gè)直徑60mm×高20mm的絕緣基座對(duì)三電極系統(tǒng)進(jìn)行支撐和精確定位,以實(shí)現(xiàn)裝置結(jié)構(gòu)的精準(zhǔn)性和測(cè)量結(jié)果的可靠性,其關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)是高壓電極和測(cè)量電極的直徑分別為18和14.6mm,保護(hù)電極內(nèi)徑和外徑分別為16和18mm,保護(hù)電極與測(cè)量電極間隙尺寸為0.6mm,適用于直徑ф=18mm的礦物及固體絕緣材料平板試樣電阻率測(cè)量;體積電阻率和表面電阻率驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,采用小型電極實(shí)驗(yàn)裝置與標(biāo)準(zhǔn)電極測(cè)量結(jié)果一致.
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目前還沒(méi)有一種礦物及固體絕緣材料小塊樣品電阻率測(cè)量的有效方法.為此,根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1410-2006和數(shù)字高阻計(jì)特點(diǎn),研制了一種與通用高阻計(jì)配套使用的小型電極實(shí)驗(yàn)裝置,將試樣直徑由標(biāo)準(zhǔn)電極的100mm減小到18mm,試樣面積減少了30.86倍;該裝置采用2個(gè)直徑60mm×高20mm的絕緣基座對(duì)三電極系統(tǒng)進(jìn)行支撐和精確定位,以實(shí)現(xiàn)裝置結(jié)構(gòu)的精準(zhǔn)性和測(cè)量結(jié)果的可靠性,其關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)是高壓電極和測(cè)量電極的直徑分別為18和14.6mm,保護(hù)電極內(nèi)徑和外徑分別為16和18mm,保護(hù)電極與測(cè)量電極間隙尺寸為0.6mm,適用于直徑ф=18mm的礦物及固體絕緣材料平板試樣電阻率測(cè)量;體積電阻率和表面電阻率驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,采用小型電極實(shí)驗(yàn)裝置與標(biāo)準(zhǔn)電極測(cè)量結(jié)果一致.
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